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JCM7000掃描透射電子顯微鏡 ,是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構,可測樣品:土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品,涉及行業(yè):地質、冶金、材料、農業(yè)、石油、化工、制藥、食
JSM-IT500掃描電子顯微鏡,是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號,經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極,調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度,得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構,可測樣品:土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、醫(yī)療器械,保健品等多種樣品。
JCM7000進口掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構,可測樣品:土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品,涉及行業(yè):地質、冶金、材料、農業(yè)、石油、化工、制藥等。
蔡司Sigma 300/500系列是擁有高品質成像和分析功能的場發(fā)射掃描電鏡。它收益于久經(jīng)考 驗的Gemini電子光學技術。Sigma300/500可以配備多種探 測器,可以滿足不同的應用需求:顆粒物,表面構型及納米結構等樣品的成像。利用Sigma 300/500直觀的4 步工作流程,可以使得日常所需的成 像和分析的效率得到提高。
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